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醫(yī)學教育網兒科主治醫(yī)師:《答疑周刊》2023年第18期

2023-01-19 16:42 醫(yī)學教育網
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新生兒缺氧缺血性腦病是圍生期需要重點關注的疾病,會伴有中樞神經系統的受損,主要原因是圍生期窒息、缺氧,考試中也是常考知識點,本期帶大家一起回顧相關內容。

問題索引:

1.新生兒缺氧缺血性腦病的原因?

2.新生兒缺氧缺血性腦病的輔助檢查?

3.新生兒缺血缺氧性腦病的發(fā)病機制?

具體解答:

1.新生兒缺氧缺血性腦病的原因?

新生兒缺氧缺血性腦病最常見的原因是

A.產傷

B.腦血管栓塞

C.貧血

D.發(fā)紺型先天性心臟病

E.圍生期窒息

【答案】E

【解析】新生兒缺氧缺血性腦病是由圍生期缺氧所致的腦損傷,進而使中樞神經系統受損,臨床上有腦病的表現:驚厥或[醫(yī)學教育網原創(chuàng)]腦干受損表現,意識狀態(tài)、肌肉張力及原始反射異常。(1)圍生期:窒息各種原因所致宮內窘迫,分娩過程中或出生時的窒息是主要的病因。腦部病變依窒息時間和缺氧缺血程度而定。(2)新生兒疾?。喝鐕乐氐暮粑鼤和!⒎瓮该髂げ?、胎糞吸入綜合征、嚴重肺炎、心搏驟停、心力衰竭、休克等所致的缺氧缺血。

2.新生兒缺氧缺血性腦病的輔助檢查?

以下哪項檢查對診斷新生兒缺氧缺血性腦病意義重大

A.頭顱B超

B.MRI

C.腦脊液檢查

D.血氣分析

E.頭顱CT

【答案】B

【解析】MRI對HIE的診斷有重要意義。常規(guī)MRI可于生后2~8天完成檢查,可以明確神經病理類型:①白質損傷為主,T1WI為高信號,T2WI為低信號;②內囊后支,基底核及丘[醫(yī)學教育網原創(chuàng)]腦腹外側核受累為主,常見于重度HIE預后不良;③皮層或皮層下白質受累常為缺血性病變,或出血性改變;④白質和皮層,或同時有深部核團受累。

3.新生兒缺血缺氧性腦病的發(fā)病機制?

新生兒缺血缺氧性腦病的發(fā)病機制不正確的是

A.興奮性氨基酸

B.高血糖

C.代謝性酸中毒

D.鈣超載

E.氧自由基

【答案】B

【解析】缺氧時無氧酵解使糖耗量增加,乳酸堆積,導致低血糖和代謝性酸中毒;ATP產生減少,細胞膜鈉泵,鈣泵功能不足,使鈉、鈣離子進入細胞內鈉離子造成細胞源性腦水腫,鈣離子導致細胞不可逆的損害就能激活相關酶原,引起胞漿膜磷脂成分分解,破壞腦細胞膜的完整性和通透性;缺氧時,ATP降解,腺苷轉為次黃嘌呤,當缺血再灌注時,氧和次黃嘌呤在黃嘌呤氧化酶作用下產生氧自由基;缺氧時,興奮性氨基酸異常[醫(yī)學教育網原創(chuàng)]釋放,可造成鈉、鈣離子內流,阻斷線粒體的磷酸化氧化作用,引起細胞自我破壞,神經元上興奮性氨基酸受體密集者易受缺氧缺血損傷。

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